HAST高速耐老化试验机

应用领域

HAST高速耐老化试验机广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。

HAST加速老化试验箱提供了人性化的功能：大的内部空间使其更容易加载 PCB。标准功能包括加热和冷却阶段的冷凝保护功能、程序控制、用于控制测试样品的12个触点和自动供水功能。

HAST加速老化试验箱IEC 60068-2-66 标准，并具有21或51升的标准容积以及带有两个独立测试室的双室系统可供选择。

HAST加速老化试验箱用于电子元件的加速气候测试，具有可靠、可重复的结果。

半导体材料HAST高压加速老化试验箱的主要特点:

1．造型分为台式和立式两种,当然这是有具体的使用性能差别的,这样的两种PCT高压老化试验箱造型非常的好看,基本上都是采用了圆弧造型。

2．遇到这样的机械,人体不会造成多大的损害,可以说这是非常人性化的一点。

3．观察窗的设计,因为在试验的过程中需要时刻注意箱体的情况,所以观察窗是不是设置得好对于一次实验非常的重要,试验箱的观察窗视野非常的大,所以基本能够满足实验需要。

4．箱体的控制系统需要很完善,当然只有完善的控制系统才能够得到准确的实验数据,当然这些对于实验是非常重要的。

HAST高速耐老化试验机主要用于对电子元器件和产品进行加速老化测试，以评估其在长期使用过程中的可靠性和寿命。以下是一些常见的检测项目：

温度老化：通过将产品置于高温高湿环境中，在一定时间内暴露于较高温度下，以模拟产品在实际使用中可能遇到的高温环境。这可以加速老化过程，并检测产品在高温条件下的性能变化和可靠性。

湿度老化：将产品置于高湿度环境中，暴露于高湿度条件下一定时间，以模拟产品在潮湿环境中可能遇到的情况。这可以加速老化过程，并检测产品在高湿度条件下的性能变化和可靠性。

电场老化：通过施加电场应力，模拟产品在实际使用中可能遇到的电压应力情况。这可以加速老化过程，并检测产品在电场应力下的性能变化和可靠性。

压力老化：一些特定类型的产品可能需要经受一定压力的应力，以模拟实际使用中的压力情况。HAST试验机可以施加压力来加速老化过程，并评估产品在压力应力下的性能变化和可靠性。

功能测试：在老化试验完成后，还可以进行功能测试，以评估产品在老化过程中是否出现功能故障或性能下降。这可以帮助确定产品的使用寿命和可靠性。

需要根据具体的产品类型和要求，选择合适的检测项目和参数设置。同时，在进行试验之前，建议仔细阅读设备的操作手册和相关标准，了解正确的操作步骤和注意事项，并严格按照厂家提供的指导进行操作。