芯片-HAST高温高压加速老化试验箱

产品用途：用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压（不偏压）高加速应力寿命老化试验。

执行试验标准：

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）

JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）

芯片-HAST高温高压加速老化试验箱的主要特点如下：

高温高湿环境模拟：HAST试验箱能够模拟出高温高湿的条件，通常在100°C至150°C的温度范围内，相对湿度达到85%至95%，可以快速加速产品的老化过程。

短周期测试：相比于自然老化测试，HAST试验箱能够在短时间内完成老化测试，大大缩短了测试周期，提高了测试效率。

可靠性和准确性：试验箱配备了专业的控制系统，可以精确地监测和调节温度、湿度等参数，从而确保测试的准确性和可靠性。

密封性能良好：HAST试验箱的内部采用高质量不锈钢材料制造，具有优异的密封性能，可以有效地防止外界环境对试验结果的干扰。

广泛适用性：HAST试验箱广泛应用于各个行业，包括电子产品、汽车零部件、航空航天等领域，适用于各种电子元器件和材料的老化测试。

评估产品可靠性：通过HAST试验箱进行测试，可以提前评估产品在恶劣条件下的可靠性和耐久性，预测产品的使用寿命和在困难环境下的性能表现，为产品设计和改进提供指导。

芯片-HAST高温高压加速老化试验箱具有快速、准确、可靠的特点，是进行电子元器件和材料老化测试的重要工具。