您的位置：HAST温湿度偏压寿命试验箱
简要描述：HAST温湿度偏压寿命试验箱通常能够在相对较短的时间内模拟出类似于长时间自然老化过程的效果。它采用高温高湿的环境条件，通常在100°C至150°C的温度范围内，并且相对湿度达到85%至95%。这种条件下，HAST试验箱可以加速电子元器件和材料的老化过程，以更快地评估其可靠性和寿命。配备了温湿度控制系统，能够精确地调节和保持所需的温度和湿度条件。
产品型号：DR-HAST-450- 厂商性质：生产厂家
- 更新时间：2023-08-09
- 访 问 量：77
产品用途：用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压（不偏压）高加速应力寿命老化试验。
执行试验标准：
GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
HAST温湿度偏压寿命试验箱具有以下特点：
高加速性能：HAST试验箱能够加速产品老化过程，从而在相对较短的时间内评估其可靠性和寿命。
温湿度控制：试验箱配备了温湿度控制系统，能够精确地调节和保持所需的温度和湿度条件。
压力控制：HAST试验箱还可以施加一定的气压，以模拟产品在高海拔或高压环境下的应力情况。
多功能性：除了模拟高温高湿条件外，HAST试验箱还可以进行其他类型的加速老化测试，如热循环、温度冲击等。
数据记录与分析：试验箱通常配备了数据记录和分析系统，能够监测、记录和分析测试过程中的温湿度等参数变化，为后续分析提供依据。
HAST温湿度偏压寿命试验箱在电子产品制造、汽车零部件、航空航天等领域得到广泛应用，能够帮助评估产品在恶劣条件下的可靠性和寿命，指导产品设计和改进工艺。
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