半导体高低温试验检测箱

半导体高低温试验检测箱根据试验方法与行业标准可分为交变试验、恒温试验，两种试验方法都是在高低温试验箱的基础上进行升级拓展，高低温试验箱是指可以一次性将需要做的高温、低温以及所需做的温度的时间设定在仪表参数内，试验箱会按照设定走程序，高低温试验箱就是在做一个固定的温度，使试验效果更接近自然气候，模拟出更恶劣的自然气候，从而使被测样品的可靠性更高。

高低温试验箱内箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

半导体高低温试验检测箱满足标准

1．GB 10589-89 低温试验箱技术条件

2. GB 10592-89 高低温试验箱技术条件

3. GB 11158-89 高温试验箱技术条件

4. GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备

5. GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程 试验A:低温试验方法

6. GB2423.2-89 电工电子产品基本试验规程 试验B:高温试验方法

7. GB2424.1-89 电工电子产品基本环境试验规程

高低温试验检测箱线性和非线性低温控温试验箱的不同温度变化速度，线性低温控温试验箱是指加热和冷却的速度均匀，以及每个周期的速度相同。如果将某个时段的升温速率设置为度/分钟，则表示整个时段的升温速率是每分钟固定的，不会是每分钟多少度，与各个时段的降温速率相同。简而言之，加热和冷却的速度由试验箱仪器控制。非线性快速温变试验箱：开始升温速度快，后期降温越来越慢。如果在一个周期内每分钟加热多少度，则表示该周期内每分钟加热和冷却的平均度数。非线性表示当升温速率不受仪器控制时平均每分钟的波动。

线性和非线性高低温试验检测箱不同的升温速率，线性快速温变试验箱温度的升温速率(实际上是第 5分钟内的平均速度)。事实上，对于温度变化较快的试验箱来说，保持线性升温速率是最困难的。最关键的是下降速度的最后 5 分钟，这是测试室可以达到的冷却速度。

非线性快速温变试验箱的升温速率是整个平均升温速率(在试验箱的温度变化范围内，最高温度与低温度之差与时间之比)。目前国内外环境试验箱厂家生产的快速温变试验箱大多数均为非线性升温速率。