芯片低温高低温试验箱

芯片低温高低温试验箱根据试验方法与行业标准可分为交变试验、恒温试验，两种试验方法都是在高低温试验箱的基础上进行升级拓展，高低温试验箱是指可以一次性将需要做的高温、低温以及所需做的温度的时间设定在仪表参数内，试验箱会按照设定走程序，高低温试验箱就是在做一个固定的温度，使试验效果更接近自然气候，模拟出更恶劣的自然气候，从而使被测样品的可靠性更高。

高低温试验箱内箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

芯片低温高低温试验箱加热体系：测试箱的加热体系相对制冷体系而言比较简单，因设备请求升温速率大所以加热体系功率也较大且底板设有加热器。

传感器体系：高低温试验箱的传感器主要是温度和湿度传感器。温度传感器使用较多的，是铂电组和热电偶，湿度的丈量方法有两种：干湿球温度计法和固态电子式传感器直接丈量法。因干湿球法丈量精度不高所以现今正逐渐的以固态传感器替代干湿球来进行湿度的丈量。

操控体系：操控体系是归纳实验箱的中心决定升温速率精度等重要目标。如今操控器大都选用PID操控，但因操控体系基本上归于软件的领域且在使用中通常不会出现问题因而本文不对操控体系做太多的介绍。

在做湿热试验中，出现实际湿度会达到100%或者实际湿度与目标湿度相差很大，数值低得很多，前者的现象：可能是湿球传感器上的纱布干燥引起，那就要检查湿球传感器的水槽中是否缺水，水槽中的水位是由一水位控制器自动控制的，查水位控制器供水系统是否供水正常，水位控制器工作是否正常。另一种可能就是湿球纱布因使用时间长，或供水水质纯净度的原因，会使纱布变硬，使纱布无法吸收水份而干燥，只要更换或清洗纱布即可排除以上现象。后者的现象主要是加湿系统不工作，查看加湿系统的供水系统，供水系统内是否有一定的水量，控制加湿锅炉水位的水位控制是否正常，加湿锅炉内的水位是否正常。如以上一切都正常，那就要检查电器控制系统，这要请专业维修人员进行检修。

GB/T 2423.1—2008电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法

GB/T 2423.2—2008电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法

GB/T 2423.3—2006电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca：恒定湿热试验方法

GB/T 2423.4—2008电工电子产品基本环境试验规程 试验Db：交变湿热试验方法

GB/T 2423.9—2001电工电子产品基本环境试验规程 试验Cb：设备用恒定湿热试验方法

GB/T 2423.22—2002电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化

GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验

GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验

GJB 150.9A-2009 装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验

GB 10586-2006 湿热试验箱技术条件

GB 10592-2008 高低温试验箱技术条件

GB/T 5170.1-2008 基本参数检定方法 总则

GB/T 5170.2-2008 基本参数检定方法

GB/T 5170.5-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 湿热试验设备

环境试验设备温度、湿度校准规范：JJF1101—2003