半导体pct试验箱系列是一种功能强大、应用广泛的设备，它通过模拟的环境条件，可以评估产品的耐久性和可靠性，为产品的研发、改进和质量控制提供有力支持。主要用于测试半导体封装的湿气能力，将待测产品置于严苛的温度、湿度及压力下测试，湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。

hast高压老化箱测试系统被广泛应用于电子元器件行业、汽车电子领域、光电产业、医疗器械领域以及航天航空领域，用于测试半导体制造、电子元件、印刷电路板（PCB）、汽车电子控制系统、LED制造与检测、光通信器件、小型植入式医疗器械、航天电子设备等产品的耐高温高湿能力，多端口数据支持：具有USB接口，可直接复制记录历史曲线和数据，也可通过RS-232或RS-485接口控制机器并将数据存储在计算机硬盘上

HAST高压加速老化试验箱定制是一种用于评估非气密性封装IC器件、半导体、微电子芯片、磁性材料及其他电子零件在高温、高湿、高压环境下的可靠性的设备。采用干湿球温度控制、升温温度控制及湿润饱和控制等三箱控制模式，满足国际标准要求 。 。

HAST寿命试验箱采用7寸真彩触摸屏操作界面使得设备操作更为便捷，同时支持USB数据下载，便于试验数据的记录和分析。用于对电子元件、半导体、电路板等进行加速老化测试，以验证其在恶劣环境下的性能和稳定性。相较于进口设备，国产HAST实验箱具有更高的性价比，为中小企业提供了可靠的测试解决方案。

国产HAST试验箱是一款高效能的试验设备，专为在高湿高温及高压环境下测试材料和产品的耐久性而设计。它通过模拟气候条件，加速材料老化过程，帮助研究人员和工程师快速评估产品在实际使用中的可靠性。该设备采用先进的控制系统，确保温湿度和压力的精确调节，满足多样化的测试需求。其双层圆弧内胆设计有效避免了试验过程中的结露滴水现象，保障了测试结果的准确性。